近日，佳能公布了一项关于传感器的最新技术专利。新技术改善了传感器结构，即使增加像素密度也能检测出相位差对焦所用信号。
新技术在传感器内层镜片和光电二极管之间嵌入高折射层，可以将导入光电二极管的入射角增大，降低衍射极限。即使像素密度的增加，也不用担心遮光层的透光间隙宽度会减小。该技术主要运用于高像素密度传感器。
佳能专利技术
ML：微透镜层，ML2：内层镜片，LL：低折射层，HL：高折射层，PD：光电二极管，SL：遮光层，P：像素尺寸，D：层间膜厚度，W：透光间隙宽度
现有传感器技术
现有技术缺点：虽然背照式CMOS传感器的微透镜和光电转换电路的距离缩短，大大提升了进光量。但是微透镜和光电二极管之间只有一层低折射层，光电二极管无法收集遮光层间隙以外的光线。
佳能专利技术：1、由于嵌入高折射层从而降低衍射极限。
2、改善传感器结构：1)、内层镜片置于微透镜层和遮光层之间；2)、高折射层将光线填充至内层镜片和遮光层；3)、低折射层将光线填充至微透镜和遮光层；4)、所有入射光线经由微透镜层和内层镜片形成光束聚焦在透光间隙内再导入光电二极管。从而提高光线收集能力和相位差检测对焦速度。
一般微透镜折射率为1.6，低折射层的折射率为1.45，佳能此项新技术使用的高折射层的折射率达到了2.3。
