广角头之五 – Summicron-M 1:2/35 Asph（续）
这些样品照片都是用徕卡M8拍摄的以减低冲放及扫底对影像质素所做成的影响。但遗憾的是由于M8的倍率是1.32x(CCD的幅度是18x27mm)，成像圈的边沿并不能纪录以评审成像质素。这些照片只在PS调整色阶而并未有其他修改。
正如MTF曲线所显示,在全开光圈f2.0时，整体影像巳经很好，反差及细节都比第四代35mm Summicron好；同时第四代35mm Summicron在全开光圈时由彗差带来的耀光也不复存在。只在边角有由于彗差带来的柔化影像及耀光。
在最佳光圈F5.6时，边角及中央成像的反差及细节有改善但并不显著。
在F16最细光圈时，成像质素受挠射现像影响而轻微下降。
这高度像差修正的後Mandler时期的头在我而言是少了一个可由光圈值控制的可变边角请晰度。我们大部份拍照的目的并不是科研，这些新头减少了传统徕兹头的特质带来的艺术气息。
